发明名称 TEST SYSTEM FOR VLSI CIRCUITS
摘要
申请公布号 EP0228156(A3) 申请公布日期 1989.06.07
申请号 EP19860307756 申请日期 1986.10.08
申请人 CONTROL DATA CORPORATION 发明人 STOICA, SUSAN
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28;G06F11/26;H03K3/037 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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