| 发明名称 |
DISPOSITIF DE TEST DE CIRCUIT ELECTRIQUE ET CIRCUIT COMPORTANT LEDIT DISPOSITIF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FR2611052(B1) |
申请公布日期 |
1989.05.26 |
| 申请号 |
FR19870002003 |
申请日期 |
1987.02.17 |
| 申请人 |
THOMSON CSF |
发明人 |
BERNARD DIAS;ARNAUD DU CHENE |
| 分类号 |
G01R31/3181;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/3181 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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