对有预定质量标准的基片进行测试的方法和装置

摘要

一种对有预定质量标准的集成电路的基片进行测试的装置。该测试装置采用了横贯凹槽的导电条。导电条与集成电路上的触点相对准。当触点与导电条相接触时,导电条会产生一个反力,以确保集成电路测试过程中的良好的电接触。

主权项

1、一种裸集成电路基片进行测试的装置，具有设置在基片上的电触点，包括：一个基底，具有尺寸大于电触点的凹槽；一个弹性导电条，横贯于所述凹槽之上，对应于所述的电触点；紧固元件，使所述基底沿第一方向固定在所述导电条上；因而，当所述导电条沿第二方向受到所述触点的挤压时，所述导电条在所述凹槽中以预定方式发生变形，所述第二方向与所述第一方向是相反的方向。