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发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR CHECKING SEMICONDUCTOR LASER
摘要
申请公布号 JPH01132976(A) 申请公布日期 1989.05.25
申请号 JP19870291319 申请日期 1987.11.17
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 KAGAWA HITOSHI
分类号 G01M11/00;G01R31/26;H01S5/00 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人
主权项
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