| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR DEVICE WITH TEST STRUCTURE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2209871(A) |
申请公布日期 |
1989.05.24 |
| 申请号 |
GB19880021206 |
申请日期 |
1988.09.09 |
| 申请人 |
* GAZELLE MICROCIRCUITS INC |
发明人 |
GARY R * GOULDSBERRY;MARK E * FITZPATRICK |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/27;G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/00;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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