发明名称 METHOD FOR MEASURING AIRTIGHTNESS OF SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH01131428(A) 申请公布日期 1989.05.24
申请号 JP19870291122 申请日期 1987.11.17
申请人 NEC CORP 发明人 HAYAKAWA YUKIO
分类号 H01L21/66;G01M3/26;H01L23/02 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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