发明名称 BIAS TESTING INSTRUMENT
摘要
申请公布号 JPH01127974(A) 申请公布日期 1989.05.19
申请号 JP19870286518 申请日期 1987.11.13
申请人 NEC CORP 发明人 SUWADA MAKOTO
分类号 G01R31/26;G01N17/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
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