METHOD FOR THE ELECTRONIC CALIBRATION OF AN EXPOSURE METER IN AN OPTICAL SYSTEM

摘要

Die Erfindung betrifft ein Kalibrierungsverfahren für eine Belichtungsmesseinrichtung eines Mikroskops (1), dessen aus dem Mikroskopobjektiv (22) austretendes Strahlenbündel (4; 7) in ein zu einem Okular (8) führendes erstes Teilstrahlenbündel (7), in dem eine Strichplatte (24) mit einer Einstellmarke angeordnet ist, und in ein zweites Teilstrahlenbündel (4) aufgeteilt wird, das zu einem Sensor (10) führt, der aus elektrooptischen Pixelelementen (12) gebildet ist, denen eine elektronische Verarbeitungseinrichtung nachgeschaltet ist. Das Verfahren beinhaltet, dass auf dem Mikroskoptisch (3) eine einen Kalibrierungs-Bezugspunkt aufweisende Kalibrierungsprobe (15) angeordnet wird, durch Verschieben des Mikroskoptisches (2) der Kalibrierungs-Bezugspunkt der Kalibrierungsprobe (15) mit der Einstellmarke der Strichplatte (24) in eine vorbestimmte Lagebeziehung gebracht wird, in dieser Lagebeziehung die Kalibrierungsprobe (15) mit dem Kalibrierungs-Bezugspunkt auf die Pixelelemente (12) des Sensors (10) abgebildet wird und unter den Pixelelementen (12) des Sensors (10) das Pixelelement als Bezugs-Pixelelement für nachfolgende Belichtungsmessungen bestimmt wird, auf das das Bild des Kalibrierungs-Bezugspunkts fällt.