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发明名称 CHARACTERISTIC MEASURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR PHOTOELECTRIC CONVERTING ELEMENT
摘要
申请公布号 JPH01118781(A) 申请公布日期 1989.05.11
申请号 JP19870276794 申请日期 1987.10.30
申请人 SHARP CORP 发明人 SANNOMIYA HITOSHI
分类号 G01R31/26;G01M11/00;H01L21/66;H01L31/04 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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