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发明名称
在快闪记忆体单元中形成自我对准浮动闸极之方法
摘要
一种于快闪记忆体单元中,形成自我对准浮动闸极之方法。于沟渠绝缘膜上形成一帽层。之后,执行蚀刻法,将该沟渠绝缘膜蚀刻成所希望之尺寸。所以,可避免沟渠绝缘膜中壕沟的产生。另外,可最小化于后续制程中所形成之浮动闸极之间隔。
申请公布号
TW200408054
申请公布日期
2004.05.16
申请号
TW091133035
申请日期
2002.11.11
申请人
海力士半导体股份有限公司
发明人
郑哲谟;孙坪根
分类号
H01L21/768;H01L21/8247
主分类号
H01L21/768
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
韩国
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