TEST METHOD FOR DETECTING FAULTY MEMORY CELLS IN A PROGRAMMABLE SEMICONDUCTOR DEVICE,申请号EP19860401968-传众专利搜索

发明名称	TEST METHOD FOR DETECTING FAULTY MEMORY CELLS IN A PROGRAMMABLE SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号	EP0214914(A3)	申请公布日期	1989.05.03
申请号	EP19860401968	申请日期	1986.09.09
申请人	FUJITSU LIMITED	发明人	FUKUSHIMA, TOSHITAKA
分类号	G11C17/00;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/24;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00	主分类号	G11C17/00
代理机构		代理人
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