INSPECTING METHOD OF HIGH-OUTPUT FIELD EFFECT TRANSISTOR,申请号JP19870272230-传众专利搜索

首页产品黄页商标征信

会员服务注册登录

法人/股东/高管

发明名称	INSPECTING METHOD OF HIGH-OUTPUT FIELD EFFECT TRANSISTOR
摘要
申请公布号	JPH01113676(A)	申请公布日期	1989.05.02
申请号	JP19870272230	申请日期	1987.10.27
申请人	NEC CORP	发明人	TAKEUCHI TOSHIHARU
分类号	G01R31/26	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利

METHOD OF THERMALLY CRACKING POLLUTED AIR CONTAINING BAD ORDOR BY COMBUSTION CHAMBER OF BOILER AND ITS DEVICE

ONE CABLE DOUBLE AND LUFFING SYSTEM POST DYNAMIC CRANE

SUNNVISOR FOR AUTOMOBILE AND HOUSING METHOD TO CEILING PORTION

ROTATION FASTENING DEVICE OF GARBAGE PUSHINGGIN VESSEL OF GARBAGE TRUCK

ELECTROLYTIC CUTTING METHOD

GAS LEAKAGE PREVENTIVE UTENSIL

SELBSTFANGHALSRAHMEN FUER TIERE, INSBESONDERE FUER RINDER

AUF LAENGE GESCHNITTENES SPLEISSBAND

SPANNVORRICHTUNG

Faltschachtel zum Transport von Speiseeis

ZERLEGBARER OFEN ZUM VERBRENNEN LANDWIRTSCHAFTLICHER ABFAELLE

FUTTERSPENDER, INSBESONDERE FUER SCHWEINE

KRANBEFESTIGUNG

VORRICHTUNG ZUM ERZEUGEN EINES AEROSOLS MITTELS ULTRASCHALL

BAUELEMENT ZUM EINFASSEN VON GARTENANLAGEN, FUSSWEGEN U.DGL.

VERFAHREN ZUM HARTLOETEN VON EINEM SCHNELLOXYDIERENDEN METALL MIT EINEM ANDEREN METALL

INDUSTRIEWASCHMASCHINE