| 发明名称 |
VLSI CHIP WITH TEST CIRCUITRY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2394188(A) |
申请公布日期 |
1989.04.27 |
| 申请号 |
AU19880023941 |
申请日期 |
1988.10.17 |
| 申请人 |
CONTROL DATA CORPORATION |
发明人 |
JUDY LYNN TESKE;DANIEL JAMES BAXTER;DON ADRIAN DAANE;BRIAN DALE BORCHERS;DAVID HOWARD ALLEN;MICHAEL FRANCIS MAAS |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G06F1/04;H01L21/66;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):H01L27/06;H01L23/52 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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