| 摘要 |
<P>Pour effectuer les tests structurels d'un circuit intégré on interpose entre le décodeur 15 de ligne de bits et la mémoire 13 de ce circuit intégré un circuit-porte 11 branché en cascade avec un bloc 1 logique de ce circuit intégré dont on cherche à effectuer le test structurel. On montre qu'en agissant ainsi on gagne de la place en mémoire par rapport à des solutions ou des tests structurels ont également un caractère direct, mais où ils nécessitent l'implantation spécifique de circuits de connexion. Ce dispositif s'adapte particulièrement aux circuits intégrés munis dès l'origine d'une mémoire et de décodeurs d'accès à cette mémoire. Il concerne plus particulièrement le domaine des cartes à mémoire où des circuits de type EPROM ou EEPROM sont utilisés pour assurer des transactions.</P>
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