PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA CARACTERISATION PAR SON TAUX DE GEL D'UN ECHANTILLON DE MATIERE PLASTIQUE RETICULE

摘要

L'invention concerne un procédé de caractérisation par un taux de gel d'un échantillon gélifié, réticulé ou vulcanisé et le dispositif pour sa mise en oeuvre.

L'échantillon est porté dans un appareil de résonance magnétique nucléaire du proton ou du fluor à une température constante et supérieure à sa température de fusion ou de transition vitreuse. Le rapport fréquence sur induction magnétique est sensiblement constant et égal à 42, 5749 mega- hertz.Tesla**-**1 pour la résonance de l'hydrogène et égal à 40,0532 megahertz.Tesla**-**1 pour celle du fluor. On soumet l'échantillon à au moins une séquence d'au moins deux impulsions et on recueille l'intensité du signal relatif à au moins un écho. Par comparaison avec une courbe d'étalonnage, on en déduit le taux de gel de l'échantillon.

Application au contrôle en continu de la fabrication des polymères.