发明名称 METHOD FOR MEASURING MIXED CRYSTAL RATIO OF COMPOUND SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 JPH0192641(A) 申请公布日期 1989.04.11
申请号 JP19870251767 申请日期 1987.10.02
申请人 SUMITOMO ELECTRIC IND LTD 发明人 SHIRAKAWA FUTATSU;TAKEBE TOSHIHIKO;YAJIMA KUNIMITSU
分类号 G01N21/63 主分类号 G01N21/63
代理机构 代理人
主权项
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