Method and device for producing a test-compatible, largely fault tolerant configuration of redundantly implemented VLSI systems.

摘要

Es wird in der Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Konfiguration von redundant implementierten systolischen VLSI-Systemen angegeben, die die Bedingungen nach Fehlertoleranz, Testkompatibilität und minimalen Hardwarebedarf erfüllen. Hierfür wird jedem Modul des mehrdimensionalen systolischen VLSI-Systems eine Steuerlogik zugeordnet, welche A-, B- und C-Schalter für das betreffende Modul steuert. Mit Hilfe dieser Schalter ist es möglich, maximal bis zu zwei fehlerhafte Module pro Zeile und ein fehlerhaftes Modul pro Spalte überbrücken zu können. Durch einen Konfigurationsalgorithmus läßt sich feststellen, ob das vorgegebene VLSI-System in der Lage ist, die gewünschten Rechenoperationen ausführen zu können.