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发明名称
LSI TESTING CIRCUIT
摘要
申请公布号
JPS6480885(A)
申请公布日期
1989.03.27
申请号
JP19870240036
申请日期
1987.09.24
申请人
NEC CORP
发明人
YOSHIMOTO SHIRO
分类号
G01R31/28
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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