发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY INSPECTING SYSTEM |
摘要 |
|
申请公布号 |
JPS6476599(A) |
申请公布日期 |
1989.03.22 |
申请号 |
JP19870233843 |
申请日期 |
1987.09.18 |
申请人 |
NEC CORP |
发明人 |
TAKESHIMA TOSHIO;TAKADA TADAHIDE;YOSHIDA MASAAKI |
分类号 |
G11C29/00;G11C11/34;G11C11/413;G11C29/34 |
主分类号 |
G11C29/00 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|