发明名称 NON-CONTACT PROFILING METHOD
摘要 Dans la présente invention, une sonde de type sans contact (PRB), capable de mesurer simultanément les distances reliant trois points sur une surface de modèle, est utilisée: pour déterminer les incréments d'inclinaison dans les directions de l'axe des X et de l'axe des Y à partir des distances entre les points A, B et C et la sonde qui sont mesurées à chaque temps d'échantillonnage prédéterminé; et pour calculer la direction perpendiculaire N du modèle au niveau du point de mesure A. Un incrément de chaque axe par temps d'échantillonnage est déterminé: (i) à partir de l'incrément de chacun des trois axes de rotation du système de coordonnées orthogonales et des deux axes de rotation de la sonde nécessaires pour faire tourner l'axe optique (OPI) dans la direction perpendiculaire, pendant que le point de mesure (A) est maintenu fixe, et (ii) à partir d'une quantité d'avance pour chaque temps d'échantillonnage et à partir des distances mesurées au moyen d'un organe de mesure de distances. Pendant qu'on oriente l'axe optique (OPI) dans la direction perpendiculaire au modèle en effectuant une commande simultanée des cinq axes au moyen de ces incréments, on obtient le profilage du modèle (MDL).
申请公布号 WO8901845(A1) 申请公布日期 1989.03.09
申请号 WO1988JP00863 申请日期 1988.08.31
申请人 FANUC LTD 发明人 MATSUURA, HITOSHI
分类号 B23Q35/128;B23Q35/127;(IPC1-7):B23Q35/127 主分类号 B23Q35/128
代理机构 代理人
主权项
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