THREE-PHASE SHORT-CIRCUIT TESTING METHOD,申请号JP19870205929-传众专利搜索

发明名称	THREE-PHASE SHORT-CIRCUIT TESTING METHOD
摘要
申请公布号	JPS6449987(A)	申请公布日期	1989.02.27
申请号	JP19870205929	申请日期	1987.08.19
申请人	MEIDENSHA CORP	发明人	FUKUDA SHIGEHIKO;ARAKAWA SHUNICHI;MATSUNAMI TAKAKAZU;ONOMOTO SHIYUUJI;SHIOZAKI MITSUYASU
分类号	G01R31/327;G01R31/333	主分类号	G01R31/327
代理机构		代理人
主权项
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