发明名称 APPAREIL DE MESURE DES CARACTERISTIQUES DE DISPOSITIFS ELECTRONIQUES
摘要 <P>L'appareil de mesure de dispositifs électroniques mesure la caractéristique d'un dispositif électronique soumis à essai 18 en appliquant une tension variant régulièrement depuis une borne d'un moyen 202 d'alimentation en tension à une borne non mise à la terre du dispositif soumis à essai et en détectant le courant qui circule dans le dispositif soumis à essai. Ce dernier ne contient pas de composante d'erreur de boucle. Une résistance 20 de détection de courant est connectée entre une autre borne du moyen d'alimentation en tension et une borne mise à la terre du dispositif soumis à essai. Puisque la tension appliquée au dispositif soumis à essai est une tension à onde en sinus au carré, le courant pur circulant dans le dispositif soumis à essai est détecté par détection des composantes à onde cosinus et à onde sinus à partir de la borne non mise à la terre du dispositif soumis à essai et par production de la différence entre la tension aux bornes de la résistance de détection de courant et les composantes à onde cosinus et à onde sinus.</P>
申请公布号 FR2619633(A1) 申请公布日期 1989.02.24
申请号 FR19880011010 申请日期 1988.08.18
申请人 SONY TEKTRONIX CORP 发明人 HISASHI TAMAMURA
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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