PROPAGATION DELAY TESTING METHOD FOR LOGIC CIRCUIT,申请号JP19870199053-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	PROPAGATION DELAY TESTING METHOD FOR LOGIC CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPS6443773(A)	申请公布日期	1989.02.16
申请号	JP19870199053	申请日期	1987.08.11
申请人	HITACHI LTD	发明人	IKEDA KOJI;HATAKEYAMA KAZUMI;HAYASHI TERUMINE
分类号	G01R31/317;G01R31/28	主分类号	G01R31/317
代理机构		代理人
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