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发明名称
SCHALTUNGSANORDNUNG ZUR ZUSAMMENFASSUNG VON DEFEKTSIGNALEN BEI DER LASERFLECKABTASTUNG
摘要
申请公布号
DD264997(A1)
申请公布日期
1989.02.15
申请号
DD19870308998
申请日期
1987.11.13
申请人
VEB FORSCHUNGSZENTRUM MIKROELEKTRONIK DRESDEN,DD
发明人
BEYER,JUERGEN,DD;IRMSCHER,MATHIAS,DD;SIEBERG,JUERGEN,DD
分类号
G01N21/47;(IPC1-7):G01N21/47
主分类号
G01N21/47
代理机构
代理人
主权项
地址
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