首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
LOGIC CIRCUIT TESTING MACHINE
摘要
申请公布号
JPS6423175(A)
申请公布日期
1989.01.25
申请号
JP19870179533
申请日期
1987.07.17
申请人
FUJITSU LTD
发明人
TERU KATSUYOSHI;ONO FUMIO
分类号
G01R31/317;G01R31/28
主分类号
G01R31/317
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
一种移动式气密性检测装置
一种适用于硬币分离机的硬币整理装置
一种病理诊断用显微观察装置
一种基于双模卫星导航系统的车载终端
CPU系统深度休眠模式下的故障自恢复装置
一种用于可升降建筑模型的灯光系统
一种车辆的节油控制装置
一种大量程交流电电流试验装置
光电转换模块
一种展会用可拆卸灯箱
一种声学监控系统
西药简易冷藏柜
一种直流牵引电动机换向器云母片等分检查工具
显示触控面板的复合驱动电路
消毒室门禁控制系统
一种带有出水接口的水表
触控面板
一种用于液压马达和液压泵的柱塞总成间隙测量工装
一种镶嵌式安装的壁挂式一体机
灌注桩桩孔孔深检测仪