发明名称 |
用等离子体加强氧化硅淀积作用的方法 |
摘要 |
用等离子体加强氧化硅淀积作用的方法包括:提供至少含有汽化的有机硅化合物,氧和惰性气体的气流;在预先抽空的反应室中产生来源于该气流的等离子体,将基片可移动地置于其中;淀积时,用非平衡磁控管约束基片附近的等离子体,以提高离子流量;使气流可控地流入等离子体中。该方法以商业上可行的淀积速率,在小的和大的基片上可重复地淀积粘附的、硬质的和基本上无机的氧化硅基薄膜,该薄膜以高质量的交键连接为特征。 |
申请公布号 |
CN1030616A |
申请公布日期 |
1989.01.25 |
申请号 |
CN88104436.9 |
申请日期 |
1988.07.15 |
申请人 |
美国BOC集团有限公司 |
发明人 |
约翰·T·费尔斯;尤金·S·洛帕塔 |
分类号 |
C23C16/40;C23C16/50;C23C16/52 |
主分类号 |
C23C16/40 |
代理机构 |
中国专利代理有限公司 |
代理人 |
何耀煌;肖掬昌 |
主权项 |
1、一种淀积附着的氧化硅基薄膜的方法,其特征在于包括: 提供一种含有汽化的有机硅化合物,氧气和惰性气体的气流, 在预先抽空的反应室中产生来源于所述气流的辉光放电等离子体,该反应室含有在等离子体中可移动位置的基片,以及 将所述气流注入等离子体中,以便在位于该等离子体中适当位置的基片上淀积氧化硅,所淀积的氧化硅是所述气流的反应产物,在淀积过程中,所述反应室保持低于大约100微米的压强。 |
地址 |
美国新泽西州 |