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发明名称 LOGICAL IC TESTING MACHINE
摘要
申请公布号 JPS6420466(A) 申请公布日期 1989.01.24
申请号 JP19870176335 申请日期 1987.07.14
申请人 NEC CORP 发明人 MAEDA TOSHIO
分类号 G01R31/317;G01R31/28 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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