发明名称 DIGITAL TESTER FOR INTEGRATED CIRCUITS OF LOW AND MEDIUM SCALE OF INTEGRATION
摘要
申请公布号 PL273105(A1) 申请公布日期 1989.01.23
申请号 PL19880273105 申请日期 1988.06.16
申请人 PRZEMYSLOWY INST ELEKTRONIKI 发明人 ISKRZYNSKI JANUSZ;KOWALCZYK MARIAN;LIWICKI ANDRZEJ;CHADZYNSKI BENEDYKT;CYBULSKI MIROSLAW;SZLEZAKOWA IRMINA;BIERNACKI KRZYSZTOF;ROGOWSKI JANUSZ;BURCZYN LUDOMIR;MANOWSKI SLAWOMIR
分类号 G01R;G01R31/28;(IPC1-7):G01R/ 主分类号 G01R
代理机构 代理人
主权项
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