TEST PATTERN PROJECTING DEVICE,申请号JP19870165911-传众专利搜索

发明名称	TEST PATTERN PROJECTING DEVICE
摘要
申请公布号	JPS6410796(A)	申请公布日期	1989.01.13
申请号	JP19870165911	申请日期	1987.07.02
申请人	NIKON CORP	发明人	AONO YASUHIRO
分类号	H04N5/225;H04N9/04;H04N17/02	主分类号	H04N5/225
代理机构		代理人
主权项
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