发明名称 |
超快变电场的测量系统 |
摘要 |
本发明提供一种超快变电场的测量系统。其特征是在聚焦系统和成像系统之间放入由起偏振器、普克尔盒和检偏振器组成的电光开关。被测脉冲信号加在电光开关上。超短脉冲发射光源发射一束光脉冲作为基础光束,由同步装置控制基础光束光脉冲和被测脉冲信号在电光开关内相遇。成像在探测器接收面上的光能量分布曲线就是被测信号随时间变化的曲线。本发明的测量系统能够测量超快变电场和光脉冲随时间变化的波形、测量的时间分辨率高于10<SUP>-12</SUP>秒。 |
申请公布号 |
CN87101030A |
申请公布日期 |
1988.11.09 |
申请号 |
CN87101030 |
申请日期 |
1987.04.30 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所;陈淑琴;支婷婷;陈兰荣;邱佩华 |
发明人 |
高福源;陈淑琴 |
分类号 |
G01R13/40;G01R29/00 |
主分类号 |
G01R13/40 |
代理机构 |
中国科学院上海专利事务所 |
代理人 |
李兰英;张泽纯 |
主权项 |
1、一种用于测量超快变电场的测量系统,由超短脉冲发射光源、扩束器、微分时间延迟器,成像系统和探测显示装置组成,其特征在于在聚焦系统和成像系统之间放入由起偏振器、普克尔盒和检偏振器组成的电光开关,被测脉冲信号加在电光开关上,超短脉冲发射光源发射的光脉冲作为基础光束,由同步装置控制基础光束的光脉冲到达普克尔盒的同时将被测脉冲信号加于普克尔盒内。 |
地址 |
上海市8211信箱 |