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发明名称 Double deflection system for focusing ions of selected mass and charge at a predetermined point
摘要
申请公布号 US3194961(A) 申请公布日期 1965.07.13
申请号 US19630261538 申请日期 1963.02.27
申请人 HEINZ EWALD;SIEGFRIED NEUMANN 发明人 EWALD HEINZ;NEUMANN SIEGFRIED
分类号 H01J49/28 主分类号 H01J49/28
代理机构 代理人
主权项
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