发明名称 METHOD OF TEMPERING OMIC CONTACTS FOR GALLIUM OXIDE
摘要
申请公布号 PL145669(B1) 申请公布日期 1988.10.31
申请号 PL19850253317 申请日期 1985.05.10
申请人 发明人
分类号 H01L;H01L21/28;(IPC1-7):H01L21/28 主分类号 H01L
代理机构 代理人
主权项
地址
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