发明名称 TIME DOMAIN REFLECTOMETER.
摘要 Circuit (20) permettant d'échantillonner et de reproduire avec précision, avec une résolution de l'ordre de la picoseconde, des signaux inconnus pouvant être d'origine électrique ou optique, ou provenir d'un rayonnement X, gamma ou de particules. Le circuit (20) comprend une porte d'échantillonnage supraconductrice (21) présentant au moins deux états pouvant être distingués l'un de l'autre. La porte d'échantillonnage pourrait comprendre par exemple un dispositif de Josephson ou un dispositif supraconducteur à interférence quantique. Des organes de communication, comprenant une source de signaux inconnus, permettent de commuter l'état de la porte d'échantillonnage. Les organes de communication comprennent une source d'impulsions d'échantillonnage et une source de courant de polarisation qui sont combinés avec le signal inconnu pour modifier l'état de la porte d'échantillonnage. Un circuit de suppression de bruit est également prévu. Un organe de synchronisation (24, 28, 29, etc.) établit une référence de temps et un retard d'échantillonnage, et comprend la source d'impulsions d'échantillonnage et des lignes de retard. Un générateur à gradins (25) relié à la source de signaux inconnus envoie un signal à la source de signaux inconnus afin de déclencher la production de signaux inconnus et, partant, l'échantillonnage. Ce circuit peut être implanté dans tous les appareils où il est nécessaire de mesurer avec précision des formes d'ondes inconnues avec une résolution et une sensibilité exceptionnellement élevées.
申请公布号 EP0286671(A1) 申请公布日期 1988.10.19
申请号 EP19870906958 申请日期 1987.09.23
申请人 HYPRES, INC. 发明人 WHITELEY, STEPHEN, R.;FARIS, SADEG, MUSTAFA
分类号 G01R13/34;G01R29/027;H03K17/92;(IPC1-7):H03K17/92 主分类号 G01R13/34
代理机构 代理人
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