发明名称 |
APPAREIL DE TEST AUTOMATIQUE DE CIRCUITS ELECTRONIQUES ET DE MESURE DE TEMPS |
摘要 |
UN APPAREIL POUR TESTER AUTOMATIQUEMENT DES CIRCUITS ELECTRONIQUES ET EFFECTUER DES MESURES DE TEMPS COMPREND UN CIRCUIT DE MESURE DE TEMPS 18 DESTINE A COMPTER DES IMPULSIONS D'HORLOGE ENTRE DES FRONTS D'EVENEMENTS DE DEMARRAGE ET D'ARRET QUI LUI SONT PRESENTES, DES SELECTEURS D'ENTREE INDEPENDANTS 54-57 ET UN ENSEMBLE DE COMPARATEURS LOCAUX 26, 28 INCORPORES DANS L'APPAREIL DE TEST PRES DE SOURCES DE SIGNAUX DEVANT FAIRE L'OBJET DE MESURES DE TEMPS ET QUI PRODUISENT UN FRONT D'EVENEMENT A LA RECEPTION D'UN SIGNAL QUI FRANCHIT UNE VALEUR DE SEUIL. UNE CORRECTION DES ECARTS DE TEMPS DE PROPAGATION EST APPLIQUEE AUX VOIES DE TRANSMISSION QUI RELIENT LES COMPARATEURS LOCAUX AUX SELECTEURS D'ENTREE. |
申请公布号 |
FR2613079(A1) |
申请公布日期 |
1988.09.30 |
申请号 |
FR19880000498 |
申请日期 |
1988.01.18 |
申请人 |
TERADYNE INC |
发明人 |
WILLIAM JOSEPH BOWHERS;MICHAEL RODNEY FERLAND |
分类号 |
G01R31/28;G01R31/3193;(IPC1-7):G01R31/28;G01R29/02 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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