发明名称 Contact-pins arrangement for the electrical contacting of a test device with circular contact surfaces of a test sample.
摘要 <p>Die Kontaktsonden-Anordnung weist unterhalb einer Einbettung der Kontaktsonden (2) in eine Kunststoffmasse einen Lochplattenstapel (1, 1a) auf, durch den sich die Kontaktsonden erstrecken. Der Lochplattenstapel besteht aus zwei Arten von Lochplatten. Die erste bilden die untersten Lochplatten (1a). Sie weisen runde oder quadratische Löcher auf, die ein senkrechtes Aufsetzen der Kontaktsonden auf die Anschlußflächen (4) des Prüflings (5) sicherstellen. Die Lochplatten (1) der zweiten Art weisen lauter Langlöcher, rechteckige, quadratische, kreisförmige, elliptische oder trapezförmige Löcher (3) auf. Von jeweils drei aufeinander gestapelten Lochplatten der zweiten Art ist die mittlere so gegen die beiden anderen, miteinander fluchtenden versetzt, daß jede Kontaktsonde von einem Teil der Lochunterkante der oberen und einem Teil der Lochoberkante der mittleren sowie von einem Teil der Lochunterkante der mittleren und einem Teil der Lochoberkante der unteren Lochplatte umschlossen wird. Dadurch kann sich die Kontaktsonde bei axialer Belastung höchstens bis zu dem ihr maximales Ausbiegen begrenzenden Teil der Lochwandung ausbiegen. Dies stellt einen ausreichend niedrigen Kontaktwiderstand zwischen der Kontaktsonde und der Anschlußfläche des Prüflings sicher. Durch eine entsprechend gewählte Anzahl der Lochplatten zweiter Art können sich die Kontaktsonden durch Unebenheiten der Oberfläche des Prüflings bedingten Höhenunterschieden von dessen Anschlußflächen anpassen.</p>
申请公布号 EP0283545(A1) 申请公布日期 1988.09.28
申请号 EP19870104577 申请日期 1987.03.27
申请人 IBM DEUTSCHLAND GMBH;INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 BAYER, THOMAS;ELSASSER, MICHAEL;GRESCHNER, JOHANN, DR.;SCHMID, HEINRICH;STOHR, ROLAND R.;WOLTER, OLAF, DR.;WITTLINGER, JURGEN
分类号 G01R31/26;G01R1/073;G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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