发明名称 Method of testing assemblies.
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Prüfung von Anordnungen, welche durch Differentialgleichungen erster Ordnung beschreibbar sind. Die anordnungsimmanenten Parameter werden durch direktes Messen der Ausgangsgrößen der Anordnung unter Bewertung in einer Filtereinheit (1) ermittelt. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die Bewertung in einer digitalen Filtereinheit (1) durchgeführt, welche aus mehreren FIR-Filtern eines ersten Typs (3, 5) und eines zweiten Typs (6) besteht. Deren Gewichtsfaktoren (hi, gi) werden als ganze Zahlen frei vorgegeben, und zwar in einer erwünschten, leicht erzeug- und verarbeitbaren Form. Im Bereich der Erregerfrequenz der Anordnung wird ein durch die freie Vorgabe hervorgerufener Fehler mittels eines einfachen Korrekturfaktors beseitigt. Das Verfahren kann vorteilhaft in der Selektivschutztechnik zur Distanz- und Fehlerortmessung eingesetzt werden.
申请公布号 EP0284546(A1) 申请公布日期 1988.09.28
申请号 EP19880730054 申请日期 1988.03.03
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 SEZI, TEVFIK, DR.;METZGER, KLAUS, DR.
分类号 G01R27/16;G01R31/08;H02H3/38;(IPC1-7):H02H3/38;G01R27/14 主分类号 G01R27/16
代理机构 代理人
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