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发明名称 ELECTRONIC PARTS TESTING UNDER HIGHER TEMPERATURE
摘要
申请公布号 CS8702382(A1) 申请公布日期 1988.09.16
申请号 CS19870002382 申请日期 1987.04.02
申请人 JELINEK MICHAL,CS 发明人 JELINEK MICHAL,CS
分类号 G01R3/00;(IPC1-7):G01R3/00 主分类号 G01R3/00
代理机构 代理人
主权项
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