发明名称 |
Radiation cross-linkable polymer system for application as photoresist and dielectric for micro wiring. |
摘要 |
Zur Verkürzung der Belichtungszeit wird ein aufgrund seiner thermischen und mechanischen Eigenschaften als Dielektrikum zum Verbleib auf einem mikroelektronischen Bauelement geeigneter Negativphotoresist angegeben, bestehend aus 90 bis 100 % eines Acrylsäureendgruppen tragenden Polyetherpolyacrylates und bis zu 10 % einer chemisch verwandten, als Vernetzungsverstärker dienenden polyfunktionellen Verbindung. Das Polymersystem zeigt hohe UV-Empfindlichkeit, ist ohne zusätzliche Temperung härtbar und wegen seiner elektrischen und mechanischen Eigenschaften insbesondere zur Herstellung von Mikroverdrahtungen geeignet.
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申请公布号 |
EP0281808(A2) |
申请公布日期 |
1988.09.14 |
申请号 |
EP19880102309 |
申请日期 |
1988.02.17 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN |
发明人 |
BUDDE, KLAUS, DR. DIPL.-CHEM. |
分类号 |
C08F299/02;C08F290/00;G03F7/038 |
主分类号 |
C08F299/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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