发明名称 Monitoring process for the electrodynamic wall thickness and error investigation.
摘要 Bei der elektrodynamischen Wanddicken- und Fehlerprüfung von Werkstücken (20) können Fehler im Sender (1), im elektrodynamischen Wandler (2) oder im Empfänger (5,6,19) infolge von Veränderungen der Parameter von Bauteilen oder Komponenten auftreten, die zu einer Fehlmessung führen, die als solche nicht erkannt wird. Bei der vorliegenden Erfindung werden diese Fehler durch eine Referenzmessung erkannt. Das vom Sender (1) erzeugte Signal (7) wird dazu einem Piezoschwinger (11) zugeführt, dessen Ultraschallsignal in einen Plexiglasstab (12) geleitet und von dort zurück zum Piezoschwinger (11) reflektiert wird. Das auf diese Weise erzeugte verzögerte Signal (8) wird über den Wandler (2) der Auswerteeinheit (6) zugeführt und dort analysiert. Verändert sich die gemesseme Verzögerungszeit (T) und/oder die gemessene Amplitude (A) des verzögerten Signales gegenüber einem vorgegebenen Soll- oder Referenzwert (T*, A*) dann liegt ein Bauteilefehler vor. Das Überwachungssystem ermöglicht eine ständige Überwachung von Sender (1), elektrodynamischem Wandler (2) und Empfänger (5,6,19) bei der normalen Wanddicken- und Fehlerprüfung von Werkstücken.
申请公布号 EP0281035(A2) 申请公布日期 1988.09.07
申请号 EP19880102926 申请日期 1988.02.26
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 QUITTKAT, JORG, DIPL.-ING.;THIEL, GERHARD, DIPL.-ING.
分类号 G01B7/06;G01B17/00;G01B21/08 主分类号 G01B7/06
代理机构 代理人
主权项
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