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发明名称 DEVICE FOR TESTING A LARGE SCALE INTEGRATED MICROPROGRAMME-CONTROLLED ELECTRONIC COMPONENT
摘要
申请公布号 EP0108414(B1) 申请公布日期 1988.09.07
申请号 EP19830111099 申请日期 1983.11.07
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 STADLMEIER, HANS, DIPL.-ING.;SCHONBERGER, FRANZ, DIPL.-ING.
分类号 G01R31/28;G06F11/22;G06F11/267;(IPC1-7):G06F11/22 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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