发明名称 一种数字直读式同位素厚度计
摘要 本发明用于材料厚度的无接触在线测量,由放射源、探测器和二次仪表构成。其二次仪表包括加偏压的反向器,充电式对数A/D变换器、时间常数调节电路和V<SUB>0</SUB>保持电路,V<SUB>0</SUB>为材料厚度为0时静电计输出电压。 由于本发明中的对数A/D变换器在电容充电过程中能改变时间常数,使厚度计在量程范围内能给出满足误差要求的厚度数字指示。
申请公布号 CN87104380A 申请公布日期 1988.08.31
申请号 CN87104380 申请日期 1987.06.25
申请人 清华大学 发明人 王泽民
分类号 G01B15/02 主分类号 G01B15/02
代理机构 清华大学专利事务所 代理人 张志东
主权项 1、一种在线无接触材料厚度测量方法,其特征在于: a,对探测器输出的与射线强度成正比的电压信号进行线性放大,反向使之转变为材料厚度为0时,V2=0,随着材料厚度增加V2增加的电压信号, b,将电压V0通过电阻R给电容C充电,电容上的电压为VC=Vo(1-e-μTh), c,当电压Vc=V2=V0(1-e-μTh)时,电压比较器[6]翻转得到与门[7]的开门时间,也就得到了代表厚度值的脉冲计数, d,用调整积分电容C上串联电阻的办法改变电容C的充电速度,修正由于积累因子、多能量射线源造成的吸收曲线与指数曲线的偏离。
地址 北京市海淀区清华园