发明名称 | 一种数字直读式同位素厚度计 | ||
摘要 | 本发明用于材料厚度的无接触在线测量,由放射源、探测器和二次仪表构成。其二次仪表包括加偏压的反向器,充电式对数A/D变换器、时间常数调节电路和V<SUB>0</SUB>保持电路,V<SUB>0</SUB>为材料厚度为0时静电计输出电压。 由于本发明中的对数A/D变换器在电容充电过程中能改变时间常数,使厚度计在量程范围内能给出满足误差要求的厚度数字指示。 | ||
申请公布号 | CN87104380A | 申请公布日期 | 1988.08.31 |
申请号 | CN87104380 | 申请日期 | 1987.06.25 |
申请人 | 清华大学 | 发明人 | 王泽民 |
分类号 | G01B15/02 | 主分类号 | G01B15/02 |
代理机构 | 清华大学专利事务所 | 代理人 | 张志东 |
主权项 | 1、一种在线无接触材料厚度测量方法,其特征在于: a,对探测器输出的与射线强度成正比的电压信号进行线性放大,反向使之转变为材料厚度为0时,V2=0,随着材料厚度增加V2增加的电压信号, b,将电压V0通过电阻R给电容C充电,电容上的电压为VC=Vo(1-e-μTh), c,当电压Vc=V2=V0(1-e-μTh)时,电压比较器[6]翻转得到与门[7]的开门时间,也就得到了代表厚度值的脉冲计数, d,用调整积分电容C上串联电阻的办法改变电容C的充电速度,修正由于积累因子、多能量射线源造成的吸收曲线与指数曲线的偏离。 | ||
地址 | 北京市海淀区清华园 |