发明名称 超声波探伤缺陷定位尺
摘要 一种超声波缺陷定位尺,由尺身、滑尺、游标构成。尺身由面板(5)、限位臂(2)和(3)以及板条(6)和(7)组成。在面板(5)上设置有标注有K值的斜线族。在板条(6)和(7)上分别设置有K尺标和X尺标,在滑尺(4)的中间处设置有坐标系,其两边设置有C尺标和XF尺标。上述四种尺标满足了缺陷定位尺的计算需要。利用本定位尺能方便地配合超声波探伤仪对缺陷进行现场快速定位,无需进行繁琐的数学计算。
申请公布号 CN87214287U 申请公布日期 1988.08.03
申请号 CN87214287 申请日期 1987.10.12
申请人 天津大学分校 发明人 朱宝安
分类号 G01N29/04;G06C1/00 主分类号 G01N29/04
代理机构 天津大学专利代理事务所 代理人 江镇华
主权项 1、一种超声波探伤缺陷定位尺,由尺身、滑尺和游标构成,其特征是,所述尺身[1]由面板[5]、限位臂[2]和[3]以及板条[6]和[7]组成,面板[5]与板条[6]和[7]之间有槽口,以便滑尺[4]可以左右滑动,面板[5]的外表面上刻有K值斜线,板条[6]和[7]上分别刻有K尺标和X尺标,滑尺[4]的一面中间处设置有坐标系,滑尺[4]另一面的两边分别刻有C尺标和XF尺标,上述K尺标是按 <math><msub><mi>L</mi><mi>g 10</mi></msub><mi>10·</mi><mfrac><mrow><mi>K</mi></mrow><mrow><msqrt><msup><mi>1+K</mi><mi>2</mi></msup></msqrt></mrow></mfrac><mi></mi></math>的公式刻制的,K值斜线是根据K=tgβ的公式刻制的。
地址 天津市鞍山西道