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发明名称 METHOD OF INSPECTION OF SECONDARY EMF STANDARDS
摘要
申请公布号 SU1413535(A1) 申请公布日期 1988.07.30
申请号 SU19874187301 申请日期 1987.01.28
申请人 KALF-KALIF SERGEJ M,SU;LIZOGUB MIKHAIL S,SU 发明人 KALF-KALIF SERGEJ M,SU;LIZOGUB MIKHAIL S,SU
分类号 G01R17/04 主分类号 G01R17/04
代理机构 代理人
主权项
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