发明名称 显微镜光度计
摘要 本实用新型提供了一种定量测试细微物体反射率的装置,它通过设置三维可调的光度计视域光栏透镜来与显微镜视域光栏透镜分别承担使光度计视域光栏和显微镜视域光栏成象的任务,从而排除杂散光的影响,提高了仪器的分辨率;并且通过对测量光栏实施一次性调试一光斑验证法,使它置于物象平面并与光度计视域光栏象同轴,简化了现有的显微镜光度计的测量光栏系统,从而减少了光吸收,降低了对测量部分的要求,降低了装置的成本。
申请公布号 CN87214585U 申请公布日期 1988.06.29
申请号 CN87214585 申请日期 1987.10.20
申请人 地质矿产部海洋地质综合研究大队 发明人 刘崇保
分类号 G01N21/00;G01J1/10 主分类号 G01N21/00
代理机构 上海专利事务所 代理人 吴淑芳
主权项 1、一种定量测试细微物体反射率的装置,它包括观察部分和测量部分,观察部分包括矿相显微镜1和观察光源系统2,测量部分包括带有晶体管稳流器3的测量光源4、测量光源4出射光通路上的单色仪5、单色仪5与观察光源系统2之间的位于矿相显微镜后方的镜室6、单色仪5与镜室6之间的在平面上两维可调的光度计视域光栏30、上述矿相显微镜1顶端的测量接筒16、其内部的测量目镜15、测量目镜上部的测量光栏系统及测量接筒16上端的光电倍增管21、管座及分压器22、电流电压转换器23、显示反射率测值的数字表24和直流稳压电源25,镜室6内装有将来自观察光源系统2和测量光源系统4的光线反射到矿相显微镜1的垂直照明器13的反射镜7、8,上述垂直照明器13包括沿光轴依次排列的孔径光栏透镜31、半挡板32、孔径光栏33、起偏器34、显微镜视域光栏37,显微镜视域光栏透镜38、呈45°位的反射器39及其下方的接物镜40,其特征在于,它还包括置于垂直照明器13内的光度计视域光栏透镜36及其使光度计视域光栏30聚焦成象于物面并居视域中心的三维调节机构35,并且,上述测量光栏系统是位于测量目镜15的物象焦平面上的测量光栏17,它具有使其有使其孔径中心位于光度计视域光栏30象的中心的在平面内二维可调的机构。
地址 上海市延安西路526号
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