发明名称 | 可换靶式同位素测厚仪 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种可换靶式同位素测厚仪,其特征是采用初级射线源与可更换的靶组成可换靶式源,在初级源的激发下,不同靶产生不同能量的X射线,对不同材质、不同厚度实现最灵敏的测量。本实用新型设计有开度可调的准直器来调节射束的强度,对不同厚度的材质实现等精度测量。为了随时对测厚仪进行校准,还设计有自动跟随校正器。本实用新型具有测厚范围宽、灵敏度高、稳定性好、结构简单、使用维护方便等优点。 | ||
申请公布号 | CN87214943U | 申请公布日期 | 1988.06.08 |
申请号 | CN87214943 | 申请日期 | 1987.11.04 |
申请人 | 核工业部大连应用技术研究所 | 发明人 | 李福全 |
分类号 | G01B15/02 | 主分类号 | G01B15/02 |
代理机构 | 核工业部专利法律事务所 | 代理人 | 董同源;汪怀义 |
主权项 | 1、可换靶式同位素测厚仪,包括射线源1、屏蔽室7、探测器4、二次仪表33、测量支架3、小车5和导轨6,本实用新型的特征在于射线源是由初级射线源8和可更换的靶11组成的可换靶式源1,屏蔽室7上装有开度大小可调的准直器38,小车5和导轨6上装有自动校正器2。 | ||
地址 | 辽宁省大连市21信箱45分箱 |