| 发明名称 |
METHOD AND ARRANGEMENT USING THE SCAN-PATH TECHNIQUE TO TEST A CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0144078(A3) |
申请公布日期 |
1988.06.01 |
| 申请号 |
EP19840114469 |
申请日期 |
1984.11.29 |
| 申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN |
发明人 |
TRISCHLER, ERWIN |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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