Device for nearly automatically testing and sorting of electronic components such as integrated circuits.

摘要

Eine Einrichtung zum weitgehend automatischen Testen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere IC's besteht aus einem Gestell (4), auf dem eine Testvorrichtung (1) angeordnet ist. An dem Gestell ist ein Speicher für leere Magazinstangen (14) und ein Speicher für befüllte Magazinstangen (15) vorgesehen. An dem Rahmen (4) befindet sich ferner eine Übertragungsvorrichtung. Diese besteht aus zwei sich horizontal erstreckenden übereinander angeordneten Schlittenführungen. Jeder der beiden daran verfahrbaren Schlitten weist einen Greifer für Magazinstangen (12) auf. Die beiden Greifer sind um die Schlittenführungen schwenkbar. Ihre Wirkungsbereiche überlappen sich insoweit, daß der obere Greifer von dem unteren Greifer Magazinstangen übernehmen kann. Der untere Greifer entnimmt dem Speicher leere Magazinstangen und bringt diese mit den Ausgabeöffnungen (3) der Testvorrichtung (1) in Kontakt, wodurch die Magazinstangen (12) befüllt werden. Die befüllten Magazinstangen werden von dem oberen Greifer (11) übernommen. Dieser führt die befüllten Magazinstangen durch Schwenkung dem Speicher (15) zu.