| 发明名称 | 一种随机轮廓表面粗糙度校准样块及其制造方法 | ||
| 摘要 | 一种随机轮廓表面粗糙度校准样块及其制造方法，现有的校准样块无法标出轮廓的起点，只能校验触针式量仪的Ra值(0.15μm～1.5μm)。本发明采用研磨工艺，在光滑参考基准平面的中部分段加工出具有单向随机轮廓的测量区域。利用光滑参考基准平面和测量区域的交线来标出单向随机轮廓的起点，Ra值可达0.015μm～1.5μm。除可用于校验触针式量仪的Ra值外，还可对各种粗糙度量仪、测试方法的测量参数和轮廓图形进行标定和比对。 | ||
| 申请公布号 | CN85102013B | 申请公布日期 | 1988.04.20 |
| 申请号 | CN85102013 | 申请日期 | 1985.07.03 |
| 申请人 | 宋俊峰 | 发明人 | 宋俊峰 |
| 分类号 | G01B5/28 | 主分类号 | G01B5/28 |
| 代理机构 | 北京市科学技术研究院专利事务所 | 代理人 | 郭佩兰;谷胜斌 |
| 主权项 | 1、一种随机轮廓表面粗糙度校准样块，它是带有一个工作表面的长方形六面体块，其工作表面中部的测量区域由若干呈周期性重复的单向随机轮廓的表面组成，其特征是测量区域（2）的两侧或/和中间有一个以上的光滑参考基准平面（1），上述的测量区域（2）和光滑参考基准平面（1）之间的交界线对应单向随机轮廓的起点。 | ||
| 地址 | 北京市1066信箱6分信 | ||