| 发明名称 |
APPARATUS FOR INSPECTING INTERNAL FLAW OF VOLTAGE NON-LINEAR RESISTOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS6375664(A) |
申请公布日期 |
1988.04.06 |
| 申请号 |
JP19860219812 |
申请日期 |
1986.09.19 |
| 申请人 |
NGK INSULATORS LTD |
发明人 |
NAKANO YOSHIHIRO;NISHIOKA SHIGEO |
| 分类号 |
G01N29/04;G01N29/26;G01N29/28 |
主分类号 |
G01N29/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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