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发明名称
TESTING CIRCUIT OF G/T INSERTION POINT
摘要
申请公布号
KR880001228(Y1)
申请公布日期
1988.03.30
申请号
KR19840004958U
申请日期
1984.05.25
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD.
发明人
HONG, SA-KWAK
分类号
H05K13/02;(IPC1-7):H05K13/02
主分类号
H05K13/02
代理机构
代理人
主权项
地址
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